dernière révision du contenu : 2008/12/30
Sous-chapitres
- A (525.1-525.2),
- B (525.21-525.255),
- C (525.301-525.581),
- D (525.601-525.899),
- E (525.901-525.1207),
- F (525.1301-525.1461),
- G (525.1501-525.1587)
- H (525.1701-525.1733)
Appendices
A, B, C, D, E, F, G, H, I, J, K, L, M, N, O
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
Appendice L
Environnements HIRF et niveaux des essais HIRF de l'équipement
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
Le présent appendice précise les environnements HIRF et les niveaux des essais HIRF de l'équipement concernant les systèmes électriques et électroniques dont il est question à l'article 525.1317. Les intensités des champs et les niveaux des essais HIRF de l'équipement de laboratoire sont exprimés en valeur RMS (racine carrée de la moyenne quadratique) mesurée pendant la crête du cycle de modulation.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
- a) L'environnement HIRF de type I est défini dans le tableau suivant :
Fréquence | Intensité des champs (Volts/Mètre) | |
---|---|---|
Crête | Moyenne | |
10 kHz – 2 MHz | 50 | 50 |
2 MHz – 30 MHz | 100 | 100 |
30 MHz – 100 MHz | 50 | 50 |
100 MHz – 400 MHz | 100 | 100 |
400 MHz – 700 MHz | 700 | 50 |
700 MHz – 1 GHz | 700 | 100 |
1 GHz – 2 GHz | 2000 | 200 |
2 GHz – 6 GHz | 3000 | 200 |
6 GHz – 8 GHz | 1000 | 200 |
8 GHz – 12 GHz | 3000 | 300 |
12 GHz – 18 GHz | 2000 | 200 |
18 GHz – 40 GHz | 600 | 200 |
Dans ce tableau, l'intensité des champs la plus élevée s'applique aux extrémités de la bande de fréquences. | ||
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) |
- b) L'environnement HIRF de type II est défini dans le tableau suivant :
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
Fréquence | Intensité des champs (Volts/Mètre) | |
---|---|---|
Crête | Moyenne | |
10 kHz – 500 kHz | 20 | 20 |
500 kHz – 2 MHz | 30 | 30 |
2 MHz – 30 MHz | 100 | 100 |
30 MHz – 100 MHz | 10 | 10 |
100 MHz – 200 MHz | 30 | 10 |
200 MHz – 400 MHz | 10 | 10 |
400 MHz – 1 GHz | 700 | 40 |
1 GHz – 2 GHz | 1300 | 160 |
2 GHz – 4 GHz | 3000 | 120 |
4 GHz – 6 GHz | 3000 | 160 |
6 GHz – 8 GHz | 400 | 170 |
8 GHz – 12 GHz | 1230 | 230 |
12 GHz – 18 GHz | 730 | 190 |
18 GHz – 40 GHz | 600 | 150 |
Dans ce tableau, l'intensité des champs la plus élevée s'applique aux extrémités de la bande de fréquences. | ||
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) |
- c) Essais HIRF de l'équipement – Niveau 1
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)- (1) De 10 kilohertz (kHz) à 400 mégahertz (MHz), procéder à des essais de vulnérabilité en conduction à l'aide d'une onde continue (CW) modulée par une onde carrée de 1 kHz à un taux de 90 pour cent ou plus. L'intensité du courant des essais de vulnérabilité en conduction doit débuter à un minimum de 0,6 milliampère (mA) à 10 kHz et augmenter de 20 décibels (dB) par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 30 mA à 500 kHz.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (2) De 500 kHz à 40 MHz, l'intensité du courant des essais de vulnérabilité en conduction doit être d'au moins 30 mA.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (3) De 40 MHz à 400 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en conduction débutant à un minimum de 30 mA à 40 MHz avec diminution de 20 dB par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 3 mA à 400 MHz.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (4) De 100 MHz à 400 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en rayonnement à une crête minimale de 20 volts par mètre (V/m) à l'aide d'une onde continue modulée par une onde carrée de 1 kHz à un taux de 90 pour cent ou plus.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (5) De 400 MHz à 8 gigahertz (GHz), procéder à des essais de vulnérabilité en rayonnement à une crête minimale de 150 V/m à l'aide d'une modulation par impulsions à 4 pour cent du cycle d'utilisation et à une fréquence de récurrence de 1 kHz. Le blocage et le déblocage du signal doit se faire à une fréquence de 1 Hz à 50 pour cent du cycle d'utilisation.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
- (1) De 10 kilohertz (kHz) à 400 mégahertz (MHz), procéder à des essais de vulnérabilité en conduction à l'aide d'une onde continue (CW) modulée par une onde carrée de 1 kHz à un taux de 90 pour cent ou plus. L'intensité du courant des essais de vulnérabilité en conduction doit débuter à un minimum de 0,6 milliampère (mA) à 10 kHz et augmenter de 20 décibels (dB) par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 30 mA à 500 kHz.
- d) Essais HIRF de l'équipement – Niveau 2
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
Le niveau 2 des essais HIRF de l'équipement correspond à l'environnement HIRF de type II du tableau II du présent appendice, avec réduction des courbes d'atténuation et de fonction de transfert de l'aéronef. Les essais doivent couvrir la bande de fréquences allant de 10 kHz à 8 GHz.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - e) Essais HIRF de l'équipement – Niveau 3
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)- (1) De 10 kHz à 400 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en conduction débutant à un minimum de 0,15 mA à 10 kHz avec augmentation de 20 dB par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 7,5 mA à 500 kHz.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (2) De 500 kHz à 40 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en conduction à un minimum de 7,5 mA.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (3) De 40 MHz à 400 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en conduction débutant à un minimum de 7,5 mA à 40 MHz avec diminution de 20 dB par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 0,75 mA à 400 MHz.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente) - (4) De 100 MHz à 8 GHz, procéder à des essais de vulnérabilité en rayonnement à un minimum de 5 V/m.
(modifié 2008/10/30; pas de version précédente)
- (1) De 10 kHz à 400 MHz, procéder à des essais de vulnérabilité en conduction débutant à un minimum de 0,15 mA à 10 kHz avec augmentation de 20 dB par décade de fréquences jusqu'à un minimum de 7,5 mA à 500 kHz.